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Unsere Leistungen für
Sie:
Materialwissenschaften
Dr. rer.nat. Michael Lux ist Diplom-Kristallograph hat Kristallographie
an der Humboldt-Universität zu Berlin und an der Universität
Leipzig studiert.
Was ist Kristallographie?
Mit dieser Ausbildung und den beruflichen Erfahrungen der letzten 20
Jahre bestehen ideale Bedingungen für die Lösung Ihrer materialwissenschaftlichen
Fragestellungen.
Ob Halbleitertechnologie, Metallurgie, Keramik, Baustoff- oder Umwelttechnologie,
es gibt praktisch keinen Bereich in dem die sichere Beherrschung der
materialwissenschaftlichen Grundlagen nicht die Basis für Ihre
erfolgreiche Produktentwicklung oder Problemlösung bilden würde.
Untersuchungen und Gutachten
Ich übernehme für Sie die Durchführung und Interpretation
von materialwissenschaftlichen Untersuchungen.
Dabei kann ich mit den jeweils am besten geeigneten Laboratorien kooperieren
und so den Aufwand in Ihrem Interesse, fachkundig auf das erforderliche
Maß beschränken.
Zielstellung der Untersuchungen ist die Identifikation von Substanzen
und von Substanzeigenschaften, z.B. aus unerwünschten Reaktionen,
Korrosion, bei Qualitätsproblemen usw. Dabei sind kleinste Probemengen
von weniger als 100 mg oft schon ausreichend.
Aus den Untersuchungsergebnissen können dann die Ursachen abgeleitet
und auch technologische Vorgaben für die Problemlösung ermittelt
werden.
Zur Übersicht eine Auswahl von Untersuchungsmethoden
| Methode |
Untersuchungsziel |
Bemerkung |
Röntgen-Phasenanalyse
(Pulverdiffraktometrie) |
Identifizierung von Einzelstoffen aus Gemischen und Reaktionsprodukten |
~100 mg Probenmaterial ausreichend (Messerspitze) |
| Wärmestrom-Differenz-Kalorimetrie / Thermogravimetrie (DSC
/ TG) |
Bestimmung von Schmelz- und Umwandlungspunkten, Stoffidentifizierung,
Ermittlung und Aufzeichnung von Reaktionsabläufen wie Abbinden,
Aushärtung, Harzbildung, Phasenumwandlungen..., |
~100 mg Probenmaterial ausreichend (Messerspitze) |
| Rasterelektronenmikroskopie (REM) |
Strukturuntersuchungen, Fehlerbilder |
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| Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) |
Eindringtiefen, Konzentrationsprofile,
auch flächenhafte Ermittlung von Konzentrationsverteilungen |
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| Röntgen-Computertomographie |
Fehlersuche (Risse, Hohlräume...) |
zerstörungsfrei,
hohe Bildauflösung (~5µm),
Probekörper bis 70cm Kantenlänge möglich |
| Mikrosonde (EDAX) |
ortsaufgelöste (µm-Bereich) Konzentrationsbestimmungen
an Proben, Asbestnachweis |
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